Решения по неразрушающей дифракционной контрастной томографии

Компания ZEISS Research Microscopy Solutions, поставщик систем неразрушающего контроля построением трехмерных изображений, представила систему микрокомпьютерной томографии ZEISS Xradia CrystalCT, позволяющую получать трехмерные кристаллографические изображения поликристаллических материалов для широкого диапазона металлов и сплавов. Система может применяться в аддитивном производстве и годится как для промышленных сфер, так и для академических лабораторий. ZEISS Xradia CrystalCT является первой в мире коммерческой реализацией соответствующей технологии, специально созданной для проведения дифракционно-контрастного томографического анализа, deliver diffraction contrast tomography, DCT, на традиционной компьютерной томографической системе.

Исследователям это дает возможность дополнять данные абсорбционно-контрастной томографии кристаллографической информацией в трех измерениях. ZEISS Xradia CrystalCT, это новейшая платформа Xradia для предоставления DCT, разработанная в сотрудничестве с Xnovo Technology ApS, пионером в области лабораторной дифракционной визуализации.

Бесшовное отображение зерна большого объема, увеличение репрезентативности объема данных по сравнению с традиционными деструктивными методами трехмерной кристаллографии обеспечивается расширенными режимами сбора данных, которые обеспечивают бесступенчатое сканирование для получения быстрых и точных данных трехмерного зерна.

Усовершенствованные режимы сканирования дополнительно снимают ограничения по размеру и скорости сбора данных для широкого диапазона обычных образцов в условиях высокопроизводительной лаборатории.

Возможность анализа проб большего размера снимает ограничения в лаборатории, позволяя использовать больше типов проб и сокращать время на подготовку, что сокращает время анализа. Более высокая скорость сбора данных позволяет сократить время анализа проб, увеличивая производительность лаборатории.

Способность отображать зернистую структуру и количественно определять лежащую в основе кристаллографическую ориентацию в таких материалах, как металлы, является инструментом для понимания и оптимизации свойств материала.

Неразрушающий характер микроконтактной визуализации облегчает понимание эволюции микроструктуры на месте, характеризуя влияние тепловых, механических или окружающих условий на поведение материала.

Такие исследования помогают оценивать характеристики, в частности, долговечность новых, более легких и прочных современных материалов и решать такие вопросы, как функциональность, безопасность и экономичность. Ранее DCT-визуализация была доступна только на синхротроне, пока она не была предложена на рентгеновском микроскопе ZEISS Xradia 620 Versa 3D в качестве модуля расширения.

ZEISS Xradia CrystalCT, это не только DCT-платформа, но и лучшая в своем классе система визуализации, обеспечивающая превосходное разрешение и качество изображения для различных задач трехмерной визуализации. Как говорит Дэниел Симс, глава отдела рентгеновской микроскопии ZEISS, CrystalCT воплощает годы передовых инноваций и достижений, которые теперь на платформах Xradia Versa доступны гораздо более широкой аудитории.

Формирующее рынок предложение CrystalCT предоставляет пользователям проверенную эффективность, необходимую для удовлетворения целого ряда потребностей в трехмерной визуализации. Клиенты получают дополнительную защиту инвестиций, так как эта платформа может быть расширена за счет широкого спектра дополнительных возможностей и обновлена до уровня лучших моделей Versa по мере расширения их бизнеса и лабораторий.